R A M – T E S T

RAM-Testprogramm für den Nascom 1

Das hier beschriebene Testprogramm läuft auf dem Nascom 1 mit dem Monitor Nasbug T 2, müßte aber auch mit den Nasbug T 4 arbeiten. Es belegt die Speicherplätze 0C50 – 0D8B.

Bei Speichertest muß natürlich davon ausgegangen werden, daß dieser Speicherbereich einwandfrei funktioniert. Nur die außerhalb dieser Adressen liegenden Bereiche kann man testen.

Programmbeschreibung:

Nach dem Start unter Angabe des zu testenden Speicherbereiches führt der Rechner zuerst einen groben Vortest auf der Suche nach „Totalschäden“ durch. Dazu schreibt er in jede Speicherzelle erst „FF“ und dann „00“. Unter der Überschrift „defekte Zellen“ listet er alle Adressen schadhafter Speicherzellen hexadezimal via Bildschirm auf. Sollte der Bildschirm dabei voll werden, was nach 96 Fehlermeldungen der Fall ist,​dann hält er an und setzt den Test erst nach Betätigen einer beliebigen Taste fort. Da im genannten Fall weitere Tests überflüssig sind, springt das Testprogramm nach Überprüfung der letzten Speicherzelle ins Monitorprogramm zurück.

Sollte kein Fehler gefunden worden sein, so wird das Testprogramm fortgeführt. Nachdem das Programm unter der Überschrift „defekte Zellen:“ mit „keine“ geantwortet hat, beginnt die Suche nach Mehrfachadressierungen. Alle Zellen sind noch durch den Vortest auf „00“ gesetzt. Nun werden in die Speicherzellen 1.,4.,7., .... Adresse FF und prüft das so entstandene Muster auf Fehler. Dann werden 2.,5.,8., … Adresse FF Beschrieben und geprüft. Desgleichen danach mit der 3.,6., 9.....Adresse. Nachdem jetzt der gesamte zu testende Bereich FF enthält, wird die gesamte Prozedur mit 00 wiederholt.

Sollte bei diesen insgesamt 6 Durchläufen irgendwo ein Fehler im „Muster“ festgestellt werden, bricht das Programm ab, schreibt „aber Mehrfachadressierungen“ auf den Bildschirm und kehrt ins Betriebssystem zurück.

Ist bis hierher alles fehlerlos abgelaufen, dann beginnt der Dauertest unter der gleichnamigen Überschrift.

Dazu wird bis zu 256 mal in jede Speicherzelle erst FF und dann wieder 00 geschrieben. Die laufende Nummer des Durchlaufes wird dabei dauernd in der untersten Bildschirmzeile mit „Durchlauf Nr. ii“ angezeigt. Wird ein Fehler registriert, bricht der Rechner wieder ab, hinterläßt aber die Nachricht „Durchlauf Nr. ii fehlerhaft“ auf dem Schirm. Wurde während aller 256 Durchläufe kein Fehler bemerkt, schreibt das Programm „Durchlauf 256 mal fehlerfrei“, um dann endgültig abzubrechen.

Dieser Programmteil eignet sich besonders gut, um sporadische Speicherfehler zu finden. Dazu sollte er allerdings bei erhöhter Taktfrequenz der CPU ablaufen. Am besten führt man diese Taktfrequenz aus einem einfachen externen RC-Generator mit angeschlossenem Zähler zu. Aus der maximal möglichen Taktfrequenz lassen sich dann Rückschlüsse auf die Zugriffszeit des getesteten RAMs ziehen. Bei einem solchen Test des Bereiches 0E00 … 0EFF, also eines Bereiches des Benutzer-RAM auf der Grundplatine, zeigten sich bis etwa 4 MHz (normalerweise 2 MHz) keine Fehler. Es besteht hier, zumindest bei meinem Gerät, ein Sicherheitsfaktor in der Zugriffszeit von zwei, den man dann wohl auch auf eine externe Erweiterung anwenden sollte.

Ist der Speicher in Ordnung, steht nach dem Durchlauf der Programmes auf dem Schirm:

"    defekte Zellen:
     keine,
     also Dauertest:
     Durchlauf 256 mal fehlerfrei    "

Da der Rechner das Programm sofort abbricht, sobald ein Fehler auftritt, läßt sich durch Ausgabe des getesteten Bereiches auf dem Schirm der Fehler erfahrungsgemäß leicht finden. Auf eine Fehleranalyse schon im Programm wurde deshalb verzichtet.